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2016-7

FT-3600粉體高溫壓縮強度測試系統1概述：粉體在高溫環境下的壓縮特性，用于描述粉體在溫變下體積、密度、壓縮與壓力的變化關系及阻抗的變化；通過對粉體施加屈服強度變形所需的主應力，來分析粉體的體積變化與壓力關系即（主應力與粉體密度的變化關系），時間與屈服強度變化關系，屈服強度與壓縮高度變化關系，溫度與阻抗的變化關系，壓力與阻抗的變化關系等數據函數關系；采用經驗方程法：Heckel、Kawakita、Adams方程及川北方程線性回歸方程的壓縮理論來分析粉體顆粒新品、研發固體產品...

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2016-6

高溫粉末電阻率測試簡單介紹

高溫粉末電阻率測試系統提供一種在高溫環境下測試粉體材料電性能，分析粉體在高溫環境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關系，能模擬粉體本身在使用環境和自身特性高溫環境下的電性能狀態.為提高生產，品質管理，研發新品，改善配方提供新的參考數據.為改善生產工藝和新品生產中存在的可能性以及不確定性的影響因數進行提前預測和預防，建立產品從研發到生產的過程數據庫模型.本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的...

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2016-3

經濟型粉體剪切測試儀

FT-3100經濟型粉體剪切測試儀一、描述：粉體工業在加工、存儲、運輸、料倉中常出現拱架/鼠孔結構；如壓縮拱受料倉壓力作用固結強度增加導致結拱；鍥形拱塊狀物料互相嚙合在孔口架橋成拱；粘結粘附拱水分、靜電吸附導致粉料與倉壁粘附力增強成拱；氣壓平衡拱：卸料裝置密封不好，導致大量空氣從底部漏入倉內使料層上下氣壓平衡所致；在粉粒料的貯存與輸送系統中，物料的流動性、物料之間及物料與固體壁面的摩擦；在料斗的設計中，排料口的大小、料斗壁的傾斜角以及粉料對料斗壁的壓力，設計不合理的料斗會給生...

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2016-3

多功能電壓降測試儀LX-9830D

：LX-9830D多功能電壓降測試儀；采取工業自動化測控技術結合高精度AD芯片；使用標準4.3寸液晶顯示器；所有數據輸入采用薄膜按鍵設定，在測試時可以通過設定電壓降上、下限及測試時間來確保產品測試的準確性及嚴格性，高精度的測試電流和電壓可以任意調節；具有統計良品與不良品功能；自動計時功能；超上下限指示燈報警；測試模式：自動和手動兩種，可以用于對產品全檢或抽檢，為質量管控之*儀器。本機型在老款基礎上升級，采用液晶顯示和薄膜面板控制，采用恒流恒壓開關電源系統供源，保證測試之穩定性...

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2016-3

東北導體材料高溫電阻率測試系統FT-352

導體材料高溫電阻率測試系統方法測試電阻率系統與高溫試驗采用由四端測量箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數據的變化曲線，是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。二、適用行業：廣泛用于：生產企業、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.三、功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和...

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2016-2

半導體電阻率測試儀是檢驗半導體材料的重要工具

半導體電阻率測試儀是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料的電阻率，方塊電阻(簿層電阻)，也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美國ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀。本儀器具有測量精度高，穩定性好，重復性好，輸入阻抗高，使用方便等特點，并有自校功能。半導體電阻率測試儀采用通用的電流-電...

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2016-1

四探針電阻率測試儀不同檢定方法所需設備

之前我們介紹過《四探針電阻率測試儀的檢定要求和環境》，本文再給大家介紹下四探針電阻率測試儀不同檢定方法所需的設備。一、檢定四探針電阻率測試儀，如果用整體法檢定，應具備下列設備：1.一臺放大倍數不低于400倍的工具顯微鏡，若干片拋光樣片。2.一臺測力儀，測力儀的技術指標為：(a)測力范圍：0～9.8N(b)測力儀總不確定度≤5%3.三套共13個標稱的標準樣片，電阻率名義值為0.001，0.01，0.1，1，2.5，5，10，75，100，180，250，500，1000Ω·cm...

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2016-1

簡述粉末堆密度計的測量過程及數據處理

粉末堆密度計適用于粉末冶金行業、制藥行業、奶粉行業、高新能源材料行業、化工、建材、合金粉等行業粉體密度的測量。測量過程是什么樣的呢?本文小編將為大家介紹下。粉末堆密度計測量密度的過程：一、試樣的制備1.將待測試樣置于烘箱中，于1100C的溫度下干燥1小時，測量前冷卻至室溫。2.將待測試樣等分為三分，取出其中一份測量其堆積密度，另兩份備用。二、測量程序1.在室溫(23±2)0C;相對濕度(50±6)%的環境下進行檢測。2.將待測試樣裝入儀器的漏斗中，...